X射线结构分析与材料性能表征
滕鳳恩

 

  • X射线结构分析与材料性能表征
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Secondary Intellectual Responsibility: 滕鳳恩,
    Secondary Intellectual Responsibility: 王煜明,
    Secondary Intellectual Responsibility: 姜小龍,
    Place of Publication: 北京
    Published: 科學;
    Year of Publication: 1997[民86]
    Edition: 第1版
    Description: 15,443面圖,表 : 20公分;
    Subject: X射線 -
    ISBN: 7030058976
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  • 2 records • Pages 1 •
 
C069204 圖書館4F 書庫 一般圖書(BOOK) 一般圖書 333.8 7976 86 c.2 一般使用(Normal) On shelf 0
C066839 圖書館4F 書庫 一般圖書(BOOK) 一般圖書 333.8 7976 86 c.3 一般使用(Normal) On shelf 0
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