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半導體物理與測試分析 = = Semiconductor physics and tesing analysis /

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:	半導體物理與測試分析 = / 譚昌龍主編.
其他題名:	Semiconductor physics and tesing analysis /
其他題名:	Semiconductor physics and tesing analysis
其他作者:	譚昌龍
出版者:	哈爾濱市 : 哈爾濱工業大學, : 2012.08.,
面頁冊數:	[7], 152面 : 圖, 表 ; : 26公分.;
附註:	簡體字版.
標題:	半導體 -
ISBN:	9787560336480 (平裝) :

半導體物理與測試分析 = = Semiconductor physics and tesing analysis /
半導體物理與測試分析 = Semiconductor physics and tesing analysis / Semiconductor physics and tesing analysis譚昌龍主編. - 第1版. - 哈爾濱市 : 哈爾濱工業大學,2012.08. - [7], 152面 : 圖, 表 ; 26公分. - "十二五"國家重點圖書出版規劃項目. - "十二五"國家重點圖書出版規劃項目..

簡體字版.

參考書目: 面151-152.

ISBN: 9787560336480 (平裝) :RMB$20Subjects--Topical Terms:

830023
半導體

半導體物理與測試分析 = = Semiconductor physics and tesing analysis /
LDR:00756nam 2200205 i 450 001 791744
008 141201s2012 cc ak g b 000 0 chi d
020 $a 9787560336480 (平裝) : $c RMB$20
040 $a 若水堂 $b chi $c WL $d NFU $e CCR
041 0 $a chi
084 $a 337.472 $b 0160 101 $2 ncsclt
245 0 0 $a 半導體物理與測試分析 = $b Semiconductor physics and tesing analysis / $c 譚昌龍主編.
246 3 1 $a Semiconductor physics and tesing analysis
246 3 0 $a 半导体物理与测试分析
250 $a 第1版.
260 $a 哈爾濱市 : $b 哈爾濱工業大學, $c 2012.08.
300 $a [7], 152面 : $b 圖, 表 ; $c 26公分.
490 1 $a "十二五"國家重點圖書出版規劃項目
490 1 $a 電子與通信工程系列
500 $a 簡體字版.
504 $a 參考書目: 面151-152.
650 7 $a 半導體 $2 lcstt $3 830023
700 1 $a 譚昌龍 $e 主編. $3 991715
830 0 $a "十二五"國家重點圖書出版規劃項目. $3 991679
830 0 $a 電子與通信工程系列. $3 991716

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館藏

1 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

C254946

圖書館4F 書庫

一般圖書(BOOK)

一般圖書

337.472 0160 101

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