語系: 繁體中文
說明(常見問題)
登入
語系
跳至 : 概要 | 書目資訊 | 主題

曹立禮

概要
作品: 0 作品在 1 項出版品 1 種語言
書目資訊
聚合物表面分析 : X射線光電子譜(XPS)和靜態次級離子質譜(SSIMS) by: Briggs, D; 鄧宗武; 布瑞格茲 ((Briggs, D.)); 曹立禮 (書目-語言資料,印刷品) , [譯]
 
 
變更密碼[密碼必須為2種組合(英文和數字)及長度為10碼以上]
登入