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Briggs, D

概要
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書目資訊
聚合物表面分析 : X射線光電子譜(XPS)和靜態次級離子質譜(SSIMS) by: 布瑞格茲 ((Briggs, D.)); 曹立禮; Briggs, D; 鄧宗武 (書目-語言資料,印刷品)
 
 
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