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林承逸

概要

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書目資訊

超音波檢測IC封裝結構中缺陷之研究 = = A Study of Detecting Defection within IC Package Structure by Ultrasonic Testing / by: 林承逸 (書目-語言資料,印刷品)

主題

ANOVA Analysis. C-SCAN. defect. Echo wave signal peak ratio. Ultrasonic Test. 反射波訊號峰值比. 單因子變異數分析. 超音波檢測.

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