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魏宏儒

概要

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書目資訊

運用8D手法降低背光模組不良率 = = Using 8D Method to Reduce Defect Rate in the BLM Assembly Process / by: 魏宏儒 (書目-語言資料,印刷品)

主題

8 Disciplines. 製程不良率. TFT-LCD. Backlight module. Process defective rate. 背光模組. 8D.

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