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分子動力學模擬原子轟擊與離子佈植之物理機制研究 = Physical m...
T.H. Fang

 

  • 分子動力學模擬原子轟擊與離子佈植之物理機制研究 = Physical mechanisms of atomic bombardment and ionic implantation using molecular dynamics simulations
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Physical mechanisms of atomic bombardment and ionic implantation using molecular dynamics simulations
    Author: 廖佳鴻,
    Secondary Intellectual Responsibility: 方得華,
    Secondary Intellectual Responsibility: 國立虎尾科技大學
    Place of Publication: 雲林縣
    Published: 國立虎尾科技大學;
    Year of Publication: 民96[2007]
    Edition: 初版
    Description: 162面圖,表 : 30公分;
    Subject: 分子動力學
    Subject: atomic force microscope
    Online resource: http://140.130.12.251/ETD-db/ETD-search-c/view_etd?URN=etd-0725107-100734
    Summary: 摻雜技術是許多高科技元件中關鍵的技術之一,而高品質的摻雜技術在其半導體製備過程中的製程參數控制對最後的品質有最直接的影響,本文研究的目的將運用分子動&
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T000678 圖書館B1F 博碩士論文專區 不流通(NON_CIR) 碩士論文(TM) TM 008.154M 0023 96 一般使用(Normal) On shelf 0
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