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運用8D手法降低背光模組不良率 = = Using 8D Method ...

魏宏儒

運用8D手法降低背光模組不良率 = = Using 8D Method to Reduce Defect Rate in the BLM Assembly Process /

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:	運用8D手法降低背光模組不良率 =/ 魏宏儒撰.
其他題名:	Using 8D Method to Reduce Defect Rate in the BLM Assembly Process /
其他題名:	Using 8D Method to Reduce Defect Rate in the BLM Assembly Process.
作者:	魏宏儒
出版者:	雲林縣 :國立虎尾科技大學 , : 民103.06.,
面頁冊數:	[8], 62面 :圖, 表 ; : 30公分.;
附註:	指導教授：黃信豪.
標題:	背光模組. -
電子資源:	http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-0308201417435400

運用8D手法降低背光模組不良率 = = Using 8D Method to Reduce Defect Rate in the BLM Assembly Process /
魏宏儒

運用8D手法降低背光模組不良率 =Using 8D Method to Reduce Defect Rate in the BLM Assembly Process /Using 8D Method to Reduce Defect Rate in the BLM Assembly Process.魏宏儒撰. - 初版. - 雲林縣 :國立虎尾科技大學 ,民103.06. - [8], 62面 :圖, 表 ;30公分.

指導教授：黃信豪.

含參考書目.Subjects--Topical Terms:

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背光模組.

運用8D手法降低背光模組不良率 = = Using 8D Method to Reduce Defect Rate in the BLM Assembly Process /
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