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黃偉銓
概要
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書目資訊
應用像散法與斯涅爾定律量測透明基板厚度與折射率 = Application of astigmatic method and snell's law on the thickness and refractive index measurement of transparent plate
by:
Chien-hung Liu; 劉建宏; Wei-Chuan Huang; 黃偉銓
(書目-語言資料,印刷品)