應用像散法與斯涅爾定律量測透明基板厚度與折射率 = Applicatio...
Chien-hung Liu

 

  • 應用像散法與斯涅爾定律量測透明基板厚度與折射率 = Application of astigmatic method and snell's law on the thickness and refractive index measurement of transparent plate
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Application of astigmatic method and snell's law on the thickness and refractive index measurement of transparent plate
    作者: 黃偉銓,
    其他作者: 劉建宏,
    出版地: 雲林縣
    出版者: 國立虎尾科技大學;
    出版年: 民98[2009]
    版本: 初版
    面頁冊數: 86面圖 : 30公分;
    標題: DVD讀取頭
    標題: 像散法
    標題: 半導體雷射
    標題: 厚度
    標題: 取頭
    標題: 折射率
    標題: Astigmatic Method
    標題: DVD Pickup Heads
    標題: Refractive Index
    標題: Semiconductor Laser
    標題: Thickness
    電子資源: http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-3007200922440000
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
T001304 圖書館B1F 博碩士論文專區 不流通(NON_CIR) 碩士論文(TM) TM 008.166M 4428 98 一般使用(Normal) 在架 0
T001305 圖書館B1F 可外借論文區 不流通(NON_CIR) 一般圖書 008.166M 4428 98 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
多媒體
評論
Export
取書館別
 
 
變更密碼[密碼必須為2種組合(英文和數字)及長度為10碼以上]
登入