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主題
蔡國裕
概要
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1 作品在 1 項出版品 1 種語言
書目資訊
65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 = = Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations /
by: 蔡國裕
(書目-語言資料,印刷品)
主題
Channel-Hot-Carrier
Degradation
MOSFET
Temperature
Width
劣化
寬度
溫度
通道熱載子
金氧半場效電晶體
處理中
...
變更密碼[密碼必須為2種組合(英文和數字)及長度為10碼以上]
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