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65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 = = ...
~
蔡國裕
65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 = = Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 = / 蔡國裕撰.
其他題名:
Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations /
其他題名:
Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations
作者:
蔡國裕
出版者:
雲林縣 : 國立虎尾科技大學 , : 民101[2012],
面頁冊數:
64面 : 圖 ; : 30公分;
附註:
指導教授:謝振楡
標題:
Degradation -
電子資源:
http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-0608201215364300
65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 = = Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations /
蔡國裕
65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 =
Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations / Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations蔡國裕撰. - 初版 - 雲林縣 : 國立虎尾科技大學 , 民101[2012] - 64面 : 圖 ; 30公分
指導教授:謝振楡
含參考書目Subjects--Topical Terms:
922755
Degradation
65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 = = Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations /
LDR
:00854nam0 2200181 450
001
758525
008
131014s2012 xx m 000 0 chi d
040
$a
NFU
$b
chi
$c
NFU
$e
CCR
041
0 #
$a
chi
$b
chi
$b
eng
084
$a
008.166M
$b
4463 101
$2
ncsclt
100
1
$a
蔡國裕
$q
(Kuo-Yu Tsai)
$3
922746
245
1 0
$a
65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 =
$b
Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations /
$c
蔡國裕撰.
246
3 1
$a
Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations
250
$a
初版
260
#
$a
雲林縣 :
$c
民101[2012]
$b
國立虎尾科技大學 ,
300
$a
64面 :
$b
圖 ;
$c
30公分
500
$a
指導教授:謝振楡
500
$a
碩士論文--國立虎尾科技大學光電與材料科技研究所
504
$a
含參考書目
650
# 0
$a
Degradation
$3
922755
650
# 0
$a
Temperature
$3
922754
650
# 0
$a
MOSFET
$3
922753
650
# 0
$a
Channel-Hot-Carrier
$3
922752
650
# 0
$a
Width
$3
922751
650
# 7
$a
劣化
$3
922750
650
# 7
$a
金氧半場效電晶體
$3
922749
650
# 7
$a
通道熱載子
$3
922748
650
# 7
$a
溫度
$3
817394
650
# 7
$a
寬度
$3
922747
856
4 #
$u
http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-0608201215364300
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圖書館B1F 博碩士論文專區
圖書館B1F 可外借論文區
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T003786
圖書館B1F 博碩士論文專區
不流通(NON_CIR)
碩士論文(TM)
TM 008.166M 4463 101
一般使用(Normal)
在架
0
T003787
圖書館B1F 可外借論文區
不流通(NON_CIR)
一般圖書
008.166M 4463 101
一般使用(Normal)
在架
0
2 筆 • 頁數 1 •
1
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