65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 = = ...
蔡國裕

 

  • 65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 = = Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 65nm窄寬度MOSFETs於升溫下之通道熱載子可靠度探討 = / 蔡國裕撰.
    其他題名: Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations /
    其他題名: Channel-Hot-Carrier Effect on 65 nm Wide/Narrow Width MOSFETs with Temperature Variations
    作者: 蔡國裕
    出版者: 雲林縣 : 國立虎尾科技大學 , : 民101[2012],
    面頁冊數: 64面 : 圖 ; : 30公分;
    附註: 指導教授:謝振楡
    標題: Degradation -
    電子資源: http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-0608201215364300
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
T003786 圖書館B1F 博碩士論文專區 不流通(NON_CIR) 碩士論文(TM) TM 008.166M 4463 101 一般使用(Normal) 在架 0
T003787 圖書館B1F 可外借論文區 不流通(NON_CIR) 一般圖書 008.166M 4463 101 一般使用(Normal) 在架 0
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