電子封裝界面強度量測與濕-熱耦合脫層損傷分析 = = Electroni...
林冠賢

 

  • 電子封裝界面強度量測與濕-熱耦合脫層損傷分析 = = Electronic Packaging Interface Strength Measurement and Hygro-thermal Coupling Delamination Investigation /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 電子封裝界面強度量測與濕-熱耦合脫層損傷分析 =/ 林冠賢.
    其他題名: Electronic Packaging Interface Strength Measurement and Hygro-thermal Coupling Delamination Investigation /
    其他題名: Electronic Packaging Interface Strength Measurement and Hygro-thermal Coupling Delamination Investigation.
    作者: 林冠賢
    出版者: 雲林縣 :國立虎尾科技大學 , : 民112.07.,
    面頁冊數: [11], 58面 :圖, 表 ; : 30公分.;
    附註: 指導教授: 施孟鎧.
    標題: 界面強度. -
    電子資源: 電子資源
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  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
T012398 圖書館B1F 博碩士論文專區 不流通(NON_CIR) 碩士論文(TM) TM 008.120M 4437:3 112 一般使用(Normal) 在架 0
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