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Digital circuit testing and testability
~
Lala, Parag K
Digital circuit testing and testability
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:
LalaParag K,
出版地:
San Diego
出版者:
Academic Press;
出版年:
c1997
面頁冊數:
xii, 199 pill : 24 cm;
標題:
Integrated circuits - Very large scale integration -
ISBN:
0124343309
Digital circuit testing and testability
Lala, Parag K
Digital circuit testing and testability
/ Parag K. Lala - San Diego : Academic Press, c1997. - xii, 199 p ; ill ; 24 cm.
Includes bibliographical references and index.
ISBN 0124343309
Integrated circuits -- Very large scale integration
Digital circuit testing and testability
LDR
:00661cam 2200229 i 450
001
438031
005
20101024003336.0
009
a96042114
010
1
$6
30
$a
0124343309
$b
(hard)
$d
NT
100
$a
20080130d1997 m y0engy01 b
101
0
$a
eng
105
$a
a z 001zy
200
1
$a
Digital circuit testing and testability
$f
Parag K. Lala
210
$a
San Diego
$c
Academic Press
$d
c1997
215
1
$a
xii, 199 p
$c
ill
$d
24 cm
320
$a
Includes bibliographical references and index
606
$a
Integrated circuits
$x
Very large scale integration
$3
392457
$2
lc
$3
725736
676
$a
621.3950287
676
$a
621.3950287
$b
L193
676
$a
621.3950287
$v
20
680
$a
TK7874.75
$b
L35 1997
700
$a
Lala
$b
Parag K
$3
417598
801
0
$b
DLC
801
0
$a
cw
$b
BIB
$c
19980123
801
1
$a
cw
$b
national library
$c
19980123
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一般圖書
621.3950287 L193 1997
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