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JTAG測試原理與應用
~
孫清華
JTAG測試原理與應用
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
其他作者:
孫清華,
出版地:
台北市
出版者:
全華;
版本:
初版
面頁冊數:
一冊表 : 23公分;
標題:
電路測試 -
標題:
C(電腦程式語言) -
標題:
BSDL(邊界掃描敘述語言) -
ISBN:
9572129228
JTAG測試原理與應用
JTAG測試原理與應用
/ 孫清華編譯 - 初版. - 台北市 : 全華 - 一冊 ; 表 ; 23公分.
參考書目:面[1].
ISBN 9572129228
電路測試C(電腦程式語言)BSDL(邊界掃描敘述語言)
孫, 清華
JTAG測試原理與應用
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館藏
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資料類型
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一般圖書
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