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Electron and ion microscopy and micr...

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Murr, Lawrence E

Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
副題名:	principles and applications
作者:	MurrLawrence E,
出版地:	New York
出版者:	Marcel Dekker;
出版年:	1991
版本:	2nd ed
面頁冊數:	xiv,837pill : 26cm;
集叢名:	Optical engineering
標題:	Electron microscopy -
標題:	Field ion microscopy -
標題:	Microphobe analysis -
ISBN:	0824785568

Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications
Murr, Lawrence E

Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications / Lawrence E. Murr - 2nd ed. - New York : Marcel Dekker, 1991. - xiv,837p ; ill ; 26cm. - (Optical engineering ; 29).
ISBN 0824785568
Electron microscopyField ion microscopyMicrophobe analysis

Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications
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館藏

1 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

E007201

圖書館3F 書庫

一般圖書(BOOK)

一般圖書

502.825 M979 1991

一般使用(Normal)

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