國立虎尾科技大學 |

語系: 繁體中文

說明(常見問題)

登入

回首頁

切換: 標籤 | MARC模式 | ISBD

Electron backscatter diffraction in ...

~

Adams, B. L

Electron backscatter diffraction in materials science

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
其他作者:	SchwartzAdam J,
其他作者:	KumarMukul,
其他作者:	AdamsB. L,
出版地:	New York
出版者:	Kluwer Academic;
出版年:	c2000
面頁冊數:	xvi, 339 pill. (some col.) : 26 cm;
標題:	Materials - Microscopy -
標題:	Scanning electron microscopy -
標題:	Crystallography -
ISBN:	030646487X

Electron backscatter diffraction in materials science
Electron backscatter diffraction in materials science / edited by Adam J. Schwartz, Mukul Kumar and Brent L. Adams - New York : Kluwer Academic, c2000. - xvi, 339 p ; ill. (some col.) ; 26 cm.
Includes bibliographical references and index.
ISBN 030646487X
MaterialsScanning electron microscopyCrystallography -- Microscopy

Schwartz, Adam J

Electron backscatter diffraction in materials science
LDR:00611cam 2200169 i 450 001 460814
005 20101024063635.0
009 att 00000015
010 1 $ b(hard) $a 030646487X $d NT
100 $a 20080130f 2000m y0engy01 b
101 0 $a eng
200 1 $a Electron backscatter diffraction in materials science $f edited by Adam J. Schwartz, Mukul Kumar and Brent L. Adams
210 $a New York $c Kluwer Academic $d c2000
215 0 $a xvi, 339 p $c ill. (some col.) $d 26 cm
320 $a Includes bibliographical references and index
606 $a Materials $x Microscopy $3 440010 $2 lc $3 728912
606 $a Scanning electron microscopy $3 441137 $2 lc $3 728847
606 $a Crystallography $3 401372 $2 lc $3 730007
676 $a 620.1/1299 $v 21
680 $a TA417.23 $b E419 2000
702 $a Schwartz $b Adam J $3 447025
702 $a Kumar $b Mukul $3 447026
702 $a Adams $b B. L $3 447027
801 1 $a cw $b 國立虎尾科技大學圖書館圖書館 $c 20020626

筆 0 讀者評論

館藏

1 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

E022635

圖書館3F 書庫

一般圖書(BOOK)

一般圖書

620.11299 E38 2000

一般使用(Normal)

在架

0

1 筆 • 頁數 1 •
1

評論

新增評論分享你的心得

Export

取書館別

變更密碼[密碼必須為2種組合(英文和數字)及長度為10碼以上]

登入