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原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of a...

~

汪島軍

原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Patent analysis of atomic force microscope
作者:	汪島軍,
出版地:	臺北市
出版者:	科資中心;
出版年:	民93[2004]
版本:	第一版
面頁冊數:	125面部分彩圖 : 30公分;
集叢名:	奈米科技專利研究系列
標題:	奈米技術 -
標題:	電子顯微鏡 -
ISBN:	9576191173

原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope
汪, 島軍

原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope / 汪島軍等作 - 第一版. - 臺北市 : 科資中心, 民93[2004]. - 125面 ; 部分彩圖 ; 30公分. - (奈米科技專利研究系列 ; 8).
含參考書目.
ISBN 9576191173
奈米技術電子顯微鏡

原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope
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205 $a 第一版
210 $a 臺北市 $c 科資中心 $d 民93[2004]
215 0 $a 125面 $c 部分彩圖 $d 30公分
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館藏

2 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

C081865

圖書館4F 書庫

一般圖書(BOOK)

一般圖書

471.73 3123 93 c.2

一般使用(Normal)

在架

0

C078964

圖書館4F 書庫

一般圖書(BOOK)

一般圖書

471.73 3123 93 c.3

一般使用(Normal)

在架

0

2 筆 • 頁數 1 •
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