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聚合物表面分析 : X射線光電子譜(XPS)和靜態次級離子質譜(SSIMS)

~

Briggs, D

聚合物表面分析 : X射線光電子譜(XPS)和靜態次級離子質譜(SSIMS)

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Title Information:	X射線光電子譜(XPS)和靜態次級離子質譜(SSIMS)
Author:	布瑞格茲
Secondary Intellectual Responsibility:	曹立禮,
Secondary Intellectual Responsibility:	鄧宗武,
Place of Publication:	北京市
Published:	化學工業; 化學工業;
Year of Publication:	民90[2001]
Edition:	第一版
Description:	[9],197,[1]面圖,表 : 21公分;
Subject:	高分子化學 -
ISBN:	7502533974

聚合物表面分析 : X射線光電子譜(XPS)和靜態次級離子質譜(SSIMS)
布瑞格茲

聚合物表面分析 : X射線光電子譜(XPS)和靜態次級離子質譜(SSIMS) / D⋅布里格斯(D. Briggs)著 ; 曹立禮,鄧宗武譯 - 第一版. - 北京市 : 化學工業, 民90[2001]. - [9],197,[1]面 ; 圖,表 ; 21公分.
參考書目: 面191-197.
ISBN 7502533974
高分子化學

曹, 立禮

聚合物表面分析 : X射線光電子譜(XPS)和靜態次級離子質譜(SSIMS)
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