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奈米科技與檢測技術

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Secondary Intellectual Responsibility:	彭國勝,
Secondary Intellectual Responsibility:	王振宇,
Secondary Intellectual Responsibility:	羅慧娟,
Place of Publication:	新竹市
Published:	工研院量測中心;
Year of Publication:	民94[2005]
Edition:	再版
Description:	[11],217面圖,表格 : 26公分;
Subject:	奈米技術 -
ISBN:	9577746020

奈米科技與檢測技術
奈米科技與檢測技術 / 彭國勝,王振宇,羅慧娟執行編輯 - 再版. - 新竹市 : 工研院量測中心, 民94[2005]. - [11],217面 ; 圖,表格 ; 26公分.
含參考書目及索引.
ISBN 9577746020
奈米技術

彭, 國勝

奈米科技與檢測技術
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