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Semiconductor material and device ch...
~
Schroder, Dieter K
Semiconductor material and device characterization
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:
SchroderDieter K,
出版地:
New York
出版者:
Wiley;
出版年:
c1998
版本:
2nd ed
面頁冊數:
xxiv, 760 pill : 25 cm;
標題:
Semiconductors -
標題:
Semiconductors - Testing -
附註:
"A Wiley-Interscience publication."
ISBN:
0471241393
Semiconductor material and device characterization
Schroder, Dieter K
Semiconductor material and device characterization
/ Dieter K. Schroder - 2nd ed. - New York : Wiley, c1998. - xxiv, 760 p ; ill ; 25 cm.
"A Wiley-Interscience publication.".
Includes bibliographical references and index.
ISBN 0471241393
SemiconductorsSemiconductors -- Testing
Semiconductor material and device characterization
LDR
:00676cam 2200217 i 450
001
480043
005
20101023214044.0
009
a97052094
010
1
$a
0471241393
$b
(hbk. : alk. paper)
$d
NT
100
$a
20080130f 1998m y0engy01 b
101
0
$a
eng
200
1
$a
Semiconductor material and device characterization
$f
Dieter K. Schroder
205
$a
2nd ed
210
$a
New York
$c
Wiley
$d
c1998
215
0
$a
xxiv, 760 p
$c
ill
$d
25 cm
300
$a
"A Wiley-Interscience publication."
320
$a
Includes bibliographical references and index
606
$a
Semiconductors
$3
398362
$2
lc
$3
723660
606
$a
Semiconductors
$x
Testing
$3
423151
$2
lc
$3
732292
676
$a
621.3815/2
$v
21
680
$a
QC611
$b
S335 1998
700
$a
Schroder
$b
Dieter K
$3
469988
801
0
$b
DLC
801
0
$a
cw
$b
BIB
$c
20070124
801
1
$a
cw
$b
虎尾科技大學圖書館
$c
20070124
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圖書館3F 書庫
館藏
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資料類型
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借閱狀態
預約狀態
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E024637
圖書館3F 書庫
一般圖書(BOOK)
一般圖書
621.38152 S381 1998
一般使用(Normal)
借出 / 到期日: 2024/11/28 23:59:59
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