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可靠性試驗
~
劉明治
可靠性試驗
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:
劉明治,
出版地:
北京市
出版者:
電子工業;
出版年:
2004[民93]
版本:
第一版
面頁冊數:
8,332,[1]面圖,表格 : 24公分;
集叢名:
電子元器件質量與可靠性技術叢書
標題:
電子學 -
ISBN:
7121002108
可靠性試驗
劉, 明治
可靠性試驗
/ 劉明治編著 - 第一版. - 北京市 : 電子工業, 2004[民93]. - 8,332,[1]面 ; 圖,表格 ; 24公分. - (電子元器件質量與可靠性技術叢書).
含參考書目.
ISBN 7121002108
電子學
可靠性試驗
LDR
:00775cam0 2200253 450
001
492020
005
20120813095848.0
009
a00000000244
010
0
$a
7121002108
$b
平裝
$d
人民幣45元
100
$a
20080130d2004 k00y0chiy5001 e
101
0
$a
chi
102
$a
cn
105
$a
akaaaaaa000yy
200
1
$a
可靠性試驗
$f
劉明治編著
205
$a
第一版
210
$a
北京市
$d
2004[民93]
$c
電子工業
215
0
$a
8,332,[1]面
$c
圖,表格
$d
24公分
225
2 #
$a
電子元器件質量與可靠性技術叢書
305
$a
簡體字版
320
$a
含參考書目
410
1
$1
2001
$a
電子元器件質量與可靠性技術叢書
517
1
$a
可靠性试验
606
#
$a
電子學
$3
400943
$2
csh
$3
723581
681
$a
337.9
$b
7263
700
1
$a
劉
$b
明治
$4
編著
$3
483540
801
0
$a
cw
$b
虎尾科技大學
$c
20061019
801
2
$a
cw
$b
虎尾科技大學
$c
20120813
$g
CCR
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