電子元器件可靠性試驗工程
陽輝

 

  • 電子元器件可靠性試驗工程
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    作者: 羅雯,
    合作者: 魏建中,
    合作者: 陽輝,
    出版地: 北京市
    出版者: 電子工業;
    出版年: 民94[2005]
    版本: 第一版
    面頁冊數: 14,350面圖,表 : 26公分;
    集叢名: 應用電子
    標題: 電子工程 -
    附註: 大陸出版品
    ISBN: 712100965X
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