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奈米粉末幾何特性影像量測系統之建立 = The development ...

李正國

奈米粉末幾何特性影像量測系統之建立 = The development of a visual method to quantify geometric characteristic of nano-scale particles

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	The development of a visual method to quantify geometric characteristic of nano-scale particles
Author:	李正國,
Secondary Intellectual Responsibility:	蔡榮鋒,
Place of Publication:	雲林縣
Published:	國立虎尾科技大學; 國立虎尾科技大學;
Year of Publication:	2005,民94
Edition:	初版
Description:	52 面圖 : 30公分;
Series:	機械與機電工程研究所
Subject:	奈米粉末
Subject:	影像分析
Subject:	穿透式電子顯微鏡
Subject:	Image Analysis
Subject:	TEM (Transmission Electron Microscope)
Subject:	nano-scale powder
Online resource:	http://140.130.12.251/ETD-db/ETD-search-c/view_etd?URN=etd-0722105-152141
Notes:	全文電子檔使用校內於2005年7月22日公開;校外於2006年7月22日公開

奈米粉末幾何特性影像量測系統之建立 = The development of a visual method to quantify geometric characteristic of nano-scale particles
李, 正國

奈米粉末幾何特性影像量測系統之建立 = The development of a visual method to quantify geometric characteristic of nano-scale particles / 李正國 ; 蔡榮鋒指導 - 初版. - 雲林縣 : 國立虎尾科技大學, 2005,民94. - 52 面 ; 圖 ; 30公分. - (機械與機電工程研究所).
全文電子檔使用校內於2005年7月22日公開;校外於2006年7月22日公開畢業學年度:93指導教授:蔡榮鋒.
奈米粉末影像分析穿透式電子顯微鏡Image AnalysisTEM (Transmission Electron Microscope)nano-scale powder

蔡, 榮鋒

奈米粉末幾何特性影像量測系統之建立 = The development of a visual method to quantify geometric characteristic of nano-scale particles
LDR:01499cam0 2200337 450 001 497929
010 0 $b (平裝) $d 新臺幣元
100 $a 20070501d2005 m y0chib09 e
101 0 $a chi
102 $a cw
105 $a a z 000zy
200 1 $a 奈米粉末幾何特性影像量測系統之建立 $d The development of a visual method to quantify geometric characteristic of nano-scale particles $f 李正國 $g 蔡榮鋒指導
205 $a 初版
210 $a 雲林縣 $c 國立虎尾科技大學 $d 2005,民94 $c 國立虎尾科技大學
215 0 $a 52 面 $c 圖 $d 30公分
225 2 $a 機械與機電工程研究所 $i 碩士論文
300 $a 全文電子檔使用校內於2005年7月22日公開;校外於2006年7月22日公開
300 $a 畢業學年度:93
300 $a 指導教授:蔡榮鋒 $u Thesis advisor:Rong-Feng Tsai
328 $a 碩士論文--國立虎尾科技大學機械與機電工程研究所
410 0 $1 2001 $a 機械與機電工程研究所 $i 碩士論文
510 1 $a The development of a visual method to quantify geometric characteristic of nano-scale pa $z eng
610 0 $a 奈米粉末
610 0 $a 影像分析
610 0 $a 穿透式電子顯微鏡
610 1 $a Image Analysis
610 1 $a TEM (Transmission Electron Microscope)
610 1 $a nano-scale powder
681 $a 008.154 $b 4016
681 $a 008.154M $b 4016
700 $a 李 $b 正國 $3 490309
702 $a 蔡 $b 榮鋒 $4 指導 $3 490310
772 $a Rong-Feng Tsai $3 530577
801 0 $a cw $b 國立虎尾科技大學圖書館 $c 20070501 $g CCR
856 2 $u http://140.130.12.251/ETD-db/ETD-search-c/view_etd?URN=etd-0722105-152141