分子動力學模擬原子轟擊與離子佈植之物理機制研究 = Physical m...
T.H. Fang

 

  • 分子動力學模擬原子轟擊與離子佈植之物理機制研究 = Physical mechanisms of atomic bombardment and ionic implantation using molecular dynamics simulations
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Physical mechanisms of atomic bombardment and ionic implantation using molecular dynamics simulations
    作者: 廖佳鴻,
    其他作者: 方得華,
    其他團體作者: 國立虎尾科技大學
    出版地: 雲林縣
    出版者: 國立虎尾科技大學;
    出版年: 民96[2007]
    版本: 初版
    面頁冊數: 162面圖,表 : 30公分;
    標題: 分子動力學
    標題: atomic force microscope
    電子資源: http://140.130.12.251/ETD-db/ETD-search-c/view_etd?URN=etd-0725107-100734
    摘要註: 摻雜技術是許多高科技元件中關鍵的技術之一,而高品質的摻雜技術在其半導體製備過程中的製程參數控制對最後的品質有最直接的影響,本文研究的目的將運用分子動&
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