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建構雙光束雷射干涉儀校正精密機具之檢測系統 = Development ...

I-Ching Chen

建構雙光束雷射干涉儀校正精密機具之檢測系統 = Development of a measurement system using dual-beam laser interferometer for precision machine tools

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Development of a measurement system using dual-beam laser interferometer for precision machine tools
作者:	陳怡靜,
其他作者:	覺文郁,
出版地:	雲林縣
出版者:	國立虎尾科技大學;
出版年:	民98[2009]
版本:	初版
面頁冊數:	98面圖 : 30公分;
標題:	光學非接觸式檢測
標題:	垂直度誤差
標題:	精密機具校正
標題:	角度誤差
標題:	雙光束雷射干涉儀
標題:	angular error
標題:	calibration of precision machine tools
標題:	dual-beam laser interferometer
標題:	non–contact optical measurement
標題:	squareness error
電子資源:	http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-3007200922125600

建構雙光束雷射干涉儀校正精密機具之檢測系統 = Development of a measurement system using dual-beam laser interferometer for precision machine tools
陳, 怡靜

建構雙光束雷射干涉儀校正精密機具之檢測系統 = Development of a measurement system using dual-beam laser interferometer for precision machine tools / 陳怡靜撰 - 初版. - 雲林縣 : 國立虎尾科技大學, 民98[2009]. - 98面 ; 圖 ; 30公分.
含參考書目.
光學非接觸式檢測垂直度誤差精密機具校正角度誤差雙光束雷射干涉儀angular errorcalibration of precision machine toolsdual-beam laser interferometernon–contact optical measurementsquareness error

覺, 文郁

建構雙光束雷射干涉儀校正精密機具之檢測系統 = Development of a measurement system using dual-beam laser interferometer for precision machine tools
LDR:01370nam0 2200337 450 001 609085
010 0 $b 平裝
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102 $a tw
200 1 $a 建構雙光束雷射干涉儀校正精密機具之檢測系統 $d Development of a measurement system using dual-beam laser interferometer for precision machine tools $f 陳怡靜撰
205 $a 初版
210 $a 雲林縣 $d 民98[2009] $c 國立虎尾科技大學
215 0 $a 98面 $c 圖 $d 30公分
314 $a 指導教授 : 覺文郁
320 $a 含參考書目
328 $a 碩士論文--國立虎尾科技大學光電與材料科技研究所
510 1 $a Development of a measurement system using dual-beam laser interferometer for precision machine tools
610 0 $a 光學非接觸式檢測
610 0 $a 垂直度誤差
610 0 $a 精密機具校正
610 0 $a 角度誤差
610 0 $a 雙光束雷射干涉儀
610 1 $a angular error
610 1 $a calibration of precision machine tools
610 1 $a dual-beam laser interferometer
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801 0 $a tw $b 國立虎尾科技大學圖書館 $c 20091012
801 1 $a tw $b 國立虎尾科技大學圖書館 $c 20091026
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