II-VI族異質半導體之結構分析與電容-電壓特性研究 = Study o...
徐瑛黛

 

  • II-VI族異質半導體之結構分析與電容-電壓特性研究 = Study of capacitance-voltage characteristics and structural analysis of ii-vi heterostructure semiconductors
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Study of capacitance-voltage characteristics and structural analysis of ii-vi heterostructure semiconductors
    Author: 徐瑛黛,
    Secondary Intellectual Responsibility: 閔庭輝,
    Place of Publication: 雲林縣
    Published: 國立虎尾科技大學;
    Year of Publication: 民98[2009]
    Edition: 初版
    Description: 53面圖 : 30公分;
    Subject: 異質
    Subject: 量測
    Subject: 電容電壓
    Subject: capacitance-voltage
    Subject: heterostructure
    Subject: measurement
    Online resource: http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-0307200902463900
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T001362 圖書館B1F 博碩士論文專區 不流通(NON_CIR) 碩士論文(TM) TM 008.166M 2812 98 一般使用(Normal) On shelf 0
T001363 圖書館B1F 可外借論文區 不流通(NON_CIR) 一般圖書 008.166M 2812 98 一般使用(Normal) On shelf 0
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