國立虎尾科技大學 |

Language: English

Login

Back

Switch To: Labeled | MARC Mode | ISBD

奈米檢測技術 = Advanced nano-scale inspect...

~

伍秀菁

奈米檢測技術 = Advanced nano-scale inspection technology

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	Advanced nano-scale inspection technology
Secondary Intellectual Responsibility:	伍秀菁,
Secondary Intellectual Responsibility:	汪若文,
Place of Publication:	新竹市
Published:	全華總經銷; 國研院儀器科技研究中心發行;
Year of Publication:	民98.04
Edition:	初版
Description:	24,654面圖,表格 : 26公分;
Subject:	奈米技術 -
ISBN:	9789868140943

奈米檢測技術 = Advanced nano-scale inspection technology
奈米檢測技術 = Advanced nano-scale inspection technology / 伍秀菁,汪若文編輯 - 初版. - 新竹市 : 全華總經銷, 民98.04. - 24,654面 ; 圖,表格 ; 26公分.
含參考書目及索引.
ISBN 9789868140943
奈米技術

伍, 秀菁

奈米檢測技術 = Advanced nano-scale inspection technology
LDR:00736cam0 2200217 450 001 614741
005 20101023174825.0
009 NFU98120458
010 0 $a 9789868140943 $b 平裝 $d NT800
100 $a 20091221d2009 k y0chiy50 e
101 0 $a chi
102 $a tw
105 $a ak z 001yy
200 1 $a 奈米檢測技術 $d Advanced nano-scale inspection technology $f 伍秀菁,汪若文編輯 $z eng
205 $a 初版
210 $a 新竹市 $a 臺北縣土城市 $d 民98.04 $c 全華總經銷 $c 國研院儀器科技研究中心發行
215 0 $a 24,654面 $c 圖,表格 $d 26公分
320 $a 含參考書目及索引
510 1 $a Advanced nano-scale inspection technology $z eng
606 $a 奈米技術 $3 702409
681 $a 440.7 $b 2124 $v 2007年版 $y 98
702 1 $a 伍 $b 秀菁 $4 編輯 $3 439930
702 1 $a 汪 $b 若文 $4 編輯 $3 439931
801 0 $a tw $b 三民 $c 20091217 $g CCR
801 2 $a tw $b 國立虎尾科技大學 $c 20091217 $g CCR $m 3

based on 0 review(s)

Items

1 records • Pages 1 •
1

Inventory Number

No. of reservations

C219278

圖書館4F 書庫

一般圖書(BOOK)

一般圖書

440.7 2124 98

一般使用(Normal)

On shelf

0

1 records • Pages 1 •
1

Reviews

Add a review and share your thoughts with other readers

Export

pickup library

Change password

Login