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奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspecti...

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汪若文

奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspection technology

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	Avanced nano-scale inspection technology
Secondary Intellectual Responsibility:	汪若文,
Secondary Intellectual Responsibility:	伍秀菁,
Place of Publication:	新竹市
Published:	國研院儀器科技研究中心發行; 全華總經銷];
Year of Publication:	民98.04
Edition:	初版
Description:	24,654面圖 : 27公分;
Subject:	奈米技術 -
ISBN:	9789868140950

奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspection technology
奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspection technology / 伍秀菁,汪若文編輯 - 初版. - 新竹市 : 國研院儀器科技研究中心發行, 民98.04. - 24,654面 ; 圖 ; 27公分.
含參考書目及索引.
ISBN 9789868140950
奈米技術

汪, 若文

奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspection technology
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一般圖書

440.7 2124-2 98

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