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奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspecti...
~
汪若文
奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspection technology
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Avanced nano-scale inspection technology
其他作者:
汪若文,
其他作者:
伍秀菁,
出版地:
新竹市
出版者:
國研院儀器科技研究中心發行; 全華總經銷];
出版年:
民98.04
版本:
初版
面頁冊數:
24,654面圖 : 27公分;
標題:
奈米技術 -
ISBN:
9789868140950
奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspection technology
奈米檢測技術
= Avanced nano-scale inspection technology / 伍秀菁,汪若文編輯 - 初版. - 新竹市 : 國研院儀器科技研究中心發行, 民98.04. - 24,654面 ; 圖 ; 27公分.
含參考書目及索引.
ISBN 9789868140950
奈米技術
汪, 若文
奈米檢測技術 = Avanced nano-scale inspection technology
LDR
:00727cam0 2200217 450
001
675179
005
20111125135512.0
009
NFU10010237
010
0
$a
9789868140950
$b
精裝
$d
NT950
100
$a
20111101d2009 k y0chiy50 e
101
0
$a
chi
102
$a
tw
105
$a
a z 001yy
200
1
$a
奈米檢測技術
$d
Avanced nano-scale inspection technology
$z
eng
$f
伍秀菁,汪若文編輯
205
$a
初版
210
$a
新竹市
$a
[臺北縣土城市
$d
民98.04
$c
國研院儀器科技研究中心發行
$c
全華總經銷]
215
0
$a
24,654面
$c
圖
$d
27公分
320
$a
含參考書目及索引
510
1
$a
Avanced nano-scale inspection technology
$z
eng
606
#
$a
奈米技術
$3
702409
681
$a
440.7
$b
2124
$y
98
$v
2007年版
702
1
$a
汪
$b
若文
$4
編輯
$3
439931
702
1
$a
伍
$b
秀菁
$4
編輯
$3
439930
801
0
$a
tw
$b
三民
$c
20111021
$g
CCR
801
2
$a
tw
$b
國立虎尾科技大學
$c
20111125
$g
CCR
$m
3
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圖書館4F 書庫
館藏
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一般圖書
440.7 2124-2 98
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