失效模式與效應分析之應用-以個案公司記憶體模組生產流程中之表面黏著技術製...
呂任晃

 

  • 失效模式與效應分析之應用-以個案公司記憶體模組生產流程中之表面黏著技術製程為例 = = The Application of The Failure Mode and Effect Analysis - A Study of the SMT Process of the DRAM Manufacturing Process for the Case Company /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 失效模式與效應分析之應用-以個案公司記憶體模組生產流程中之表面黏著技術製程為例 = / 呂任晃撰.
    其他題名: The Application of The Failure Mode and Effect Analysis - A Study of the SMT Process of the DRAM Manufacturing Process for the Case Company /
    其他題名: The Application of The Failure Mode and Effect Analysis - A Study of the SMT Process of the DRAM Manufacturing Process for the Case Company.
    作者: 呂任晃
    出版者: 雲林縣 : 國立虎尾科技大學 , : 民104.05.,
    面頁冊數: [8], 67面 : 圖, 表 ; : 30公分.;
    附註: 指導教授:胡伯潛.
    標題: 記憶體模組. -
    電子資源: http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-1407201523361500
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
T006674 圖書館B1F 博碩士論文專區 不流通(NON_CIR) 碩士論文(TM) TM 008.169M 6026 104 一般使用(Normal) 在架 0
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