語系
吳昱震
概要
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書目資訊
鈦鋁摻雜氮氧化鉿鑭在前瞻金氧半電容特性研究 = Electrical and Reliability Characteristics of Advanced Metal-Oxide-Semiconductor Capacitors with Various Ti- and Al-doped HfLaON Dielectrics
by:
Yu-Zhen Wu; 鄭錦隆; Jeng-Haur Horng; Chin-Lung Cheng; 吳昱震; 洪政豪
(書目-語言資料,印刷品)