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Moderne Röntgenbeugung = Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker /

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:	Moderne Röntgenbeugung/ von Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel.
其他題名:	Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker /
作者:	Spieß, Lothar.
其他作者:	Teichert, Gerd.
面頁冊數:	XVI, 636 S. 392 Abb., 77 Abb. in Farbe.online resource. :
Contained By:	Springer Nature eBook
標題:	Physics. -
電子資源:	https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8232-5
ISBN:	9783834882325

Moderne Röntgenbeugung = Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker /
Spieß, Lothar.

Moderne RöntgenbeugungRöntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker /[electronic resource] :von Lothar Spieß, Gerd Teichert, Robert Schwarzer, Herfried Behnken, Christoph Genzel. - 3rd ed. 2019. - XVI, 636 S. 392 Abb., 77 Abb. in Farbe.online resource.

Einleitung -- Erzeugung und Eigenschaften von Röntgenstrahlung -- Beugung von Röntgenstrahlung -- Hardware für die Röntgenbeugung -- Methoden der Röntgenbeugung -- Phasenanalyse -- Zellparameterbestimmung -- Mathematische Beschreibung von Röntgenbeugungsdiagrammen -- Kristallstrukturanalyse -- Röntgenographische Spannungsanalyse -- Röntgenographische Texturanalyse -- Bestimmung der Kristallorientierung -- Untersuchungen an dünnen Schichten -- Spezielle Verfahren -- Komplexe Anwendung -- Zusammenfassung -- Lösung der Aufgaben.

Das Buch bietet einen umfassenden Überblick über die Anwendungen der Röntgenbeugung in Gebieten wie Werkstofftechnik, Metallurgie, Elektrotechnik, Maschinenbau sowie Mikro- und Nanotechnik. Die nötigen Grundkenntnisse der Röntgenbeugung werden fundiert und anschaulich vermittelt. Dabei werden neue Techniken und Auswerteverfahren ebenso dargestellt wie altbekannte Methoden. Der Inhalt Erzeugung und Eigenschaften von Röntgenstrahlung – Beugung von Röntgenstrahlung – Hardware für die Röntgenbeugung – Methoden der Röntgenbeugung – Qualitative und quantitative Phasenanalyse – Zellparameterbestimmung – Röntgenprofilanalyse – Kristallstrukturanalyse – Röntgenografische Spannungsanalyse – Röntgenografische Texturanalyse – Kristallorientierungsbestimmung – Besonderheiten bei dünnen Schichten – Spezielle Verfahren – Komplexe Anwendungen - Übungsaufgaben Die Zielgruppen Studierende der Materialwissenschaft, Physik und Chemie an Universitäten, Hochschulen und Fachhochschulen Anwender in der Industrie Die Autoren Prof. Dr. Lothar Spieß, TU Ilmenau Dr. Gerd Teichert, MFPA Weimar Prof. Dr. Robert Schwarzer, TU Clausthal Dr. Herfried Behnken, Access e.V. Aachen Prof. Dr. Christoph Genzel, Helmholtz-Zentrum Berlin.

ISBN: 9783834882325

Standard No.: 10.1007/978-3-8348-8232-5doiSubjects--Topical Terms:

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