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Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme = Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung /

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:	Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme/ von Titu-Marius I. Băjenescu.
其他題名:	Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung /
作者:	Băjenescu, Titu-Marius I.
面頁冊數:	XXXIII, 639 S. 232 Abb., 24 Abb. in Farbe.online resource. :
Contained By:	Springer Nature eBook
標題:	Electronic Circuits and Devices. -
電子資源:	https://doi.org/10.1007/978-3-658-22178-2
ISBN:	9783658221782

Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme = Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung /
Băjenescu, Titu-Marius I.

Zuverlässige Bauelemente für elektronische SystemeFehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung /[electronic resource] :von Titu-Marius I. Băjenescu. - 1st ed. 2020. - XXXIII, 639 S. 232 Abb., 24 Abb. in Farbe.online resource.

Zuverlässigkeit einbauen -- Verpackungstechnologien und Zuverlässigkeit -- Memristor, der Speicherwiderstand -- Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen -- Zuverlässigkeit diskreter passiver Bauelemente -- Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen -- Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen -- Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren -- Zuverlässigkeit optoelektronischer Komponenten -- Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen -- Ausfallanalyse.

Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung. Der Inhalt Zuverlässigkeit einbauen - Verpackungstechnologien und Zuverlässigkeit - Memristor, der Speicherwiderstand - Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen - Zuverlässigkeit diskreter passiver Bauelemente - Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen - Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen - Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren - Zuverlässigkeit optoelektronischer Komponenten - Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen – Ausfallanalyse Die Zielgruppen Ingenieure, Informatiker und Physiker in der Praxis Studierende der Elektrotechnik an Fachschulen, Fachhochschulen, höheren technischen Lehranstalten und technischen Universitäten Der Autor Titu-Marius I. Băjenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache.

ISBN: 9783658221782

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