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Practical electron microscopy of lat...
~
Saka, H.
Practical electron microscopy of lattice defects /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
Practical electron microscopy of lattice defects // Hiroyasu Saka.
作者:
Saka, H.
出版者:
Hackensack, NJ :World Scientific, : c2021.,
面頁冊數:
xiii, 294 p. :ill. (some col.) ; : 24 cm.;
標題:
Electron microscopy. -
ISBN:
9789811234699 :
Practical electron microscopy of lattice defects /
Saka, H.
Practical electron microscopy of lattice defects /
Hiroyasu Saka. - Hackensack, NJ :World Scientific,c2021. - xiii, 294 p. :ill. (some col.) ;24 cm.
Includes bibliographical references (p. 285-286) and index.
ISBN: 9789811234699 :NT3008Subjects--Topical Terms:
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Electron microscopy.
Dewey Class. No.: 548.5
Practical electron microscopy of lattice defects /
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圖書館3F 書庫
館藏
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資料類型
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E047846
圖書館3F 書庫
一般圖書(BOOK)
一般圖書
548.5 S1584 2021
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