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運用深度學習技術進行瑕疵檢測 = = Defect Detection ...

~

謝銘峯

運用深度學習技術進行瑕疵檢測 = = Defect Detection Using Deep Learning /

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:	運用深度學習技術進行瑕疵檢測 =/ 謝銘峯.
其他題名:	Defect Detection Using Deep Learning /
其他題名:	Defect Detection Using Deep Learning.
作者:	謝銘峯
出版者:	雲林縣 :國立虎尾科技大學 , : 民111.07.,
面頁冊數:	[8], 44面 :圖, 表 ; : 30公分.;
附註:	指導教授: 黃俊銘.
標題:	深度學習. -
電子資源:	電子資源

運用深度學習技術進行瑕疵檢測 = = Defect Detection Using Deep Learning /
謝銘峯

運用深度學習技術進行瑕疵檢測 =Defect Detection Using Deep Learning /Defect Detection Using Deep Learning.謝銘峯. - 初版. - 雲林縣 :國立虎尾科技大學 ,民111.07. - [8], 44面 :圖, 表 ;30公分.

指導教授: 黃俊銘.

碩士論文--國立虎尾科技大學電子工程系碩士班.

含參考書目.

(平裝).Subjects--Topical Terms:

1127425
深度學習.

運用深度學習技術進行瑕疵檢測 = = Defect Detection Using Deep Learning /
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館藏

1 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

T012079

圖書館B1F 博碩士論文專區

不流通(NON_CIR)

碩士論文(TM)

TM 008.160M 0482 111

一般使用(Normal)

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