• Atomic-scale analytical tomography = concepts and implications /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: Atomic-scale analytical tomography/ Thomas F. Kelly, Brian P. Gorman, Simon P. Ringer.
    其他題名: concepts and implications /
    作者: Kelly, Thomas F.
    其他作者: Ringer, Simon P.
    出版者: Cambridge :Cambridge University Press, : 2022.,
    面頁冊數: xxii, 240 p. :ill., digital ; : 25 cm.;
    附註: Title from publisher's bibliographic system (viewed on 04 Mar 2022).
    標題: Atom-probe field ion microscopy. -
    電子資源: https://doi.org/10.1017/9781316677292
    ISBN: 9781316677292
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