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應用基因演算法於晶圓測試用細間距多層探針幾何結構之優化設計研究 = = ...

黃柏翰

應用基因演算法於晶圓測試用細間距多層探針幾何結構之優化設計研究 = = Optimization Design of Fine-Pitch Multi-Layer Probe Geometry for Wafer Testing Using Genetic Algorithm /

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:	應用基因演算法於晶圓測試用細間距多層探針幾何結構之優化設計研究 =/ 黃柏翰.
其他題名:	Optimization Design of Fine-Pitch Multi-Layer Probe Geometry for Wafer Testing Using Genetic Algorithm /
其他題名:	Optimization Design of Fine-Pitch Multi-Layer Probe Geometry for Wafer Testing Using Genetic Algorithm.
作者:	黃柏翰
出版者:	雲林縣 :國立虎尾科技大學 , : 民114.07.,
面頁冊數:	[9], 58面 :圖, 表 ; : 30公分.;
附註:	指導教授: 吳瑋特, 施孟鎧.
標題:	懸臂式探針卡. -
電子資源:	電子資源

應用基因演算法於晶圓測試用細間距多層探針幾何結構之優化設計研究 = = Optimization Design of Fine-Pitch Multi-Layer Probe Geometry for Wafer Testing Using Genetic Algorithm /
黃柏翰

應用基因演算法於晶圓測試用細間距多層探針幾何結構之優化設計研究 =Optimization Design of Fine-Pitch Multi-Layer Probe Geometry for Wafer Testing Using Genetic Algorithm /Optimization Design of Fine-Pitch Multi-Layer Probe Geometry for Wafer Testing Using Genetic Algorithm.黃柏翰. - 初版. - 雲林縣 :國立虎尾科技大學 ,民114.07. - [9], 58面 :圖, 表 ;30公分.

指導教授: 吳瑋特, 施孟鎧.

碩士論文--國立虎尾科技大學機械與電腦輔助工程系碩士班.

含參考書目.

(平裝).Subjects--Topical Terms:

1494451
懸臂式探針卡.

應用基因演算法於晶圓測試用細間距多層探針幾何結構之優化設計研究 = = Optimization Design of Fine-Pitch Multi-Layer Probe Geometry for Wafer Testing Using Genetic Algorithm /
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650 # 4 $a 接觸電阻. $3 1494452
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