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應用基因演算法於晶圓測試用細間距多層探針幾何結構之優化設計研究 = = ...

黃柏翰

應用基因演算法於晶圓測試用細間距多層探針幾何結構之優化設計研究 = = Optimization Design of Fine-Pitch Multi-Layer Probe Geometry for Wafer Testing Using Genetic Algorithm /

Record Type:	Language materials, printed : Monograph/item
Title/Author:	應用基因演算法於晶圓測試用細間距多層探針幾何結構之優化設計研究 =/ 黃柏翰.
Reminder of title:	Optimization Design of Fine-Pitch Multi-Layer Probe Geometry for Wafer Testing Using Genetic Algorithm /
remainder title:	Optimization Design of Fine-Pitch Multi-Layer Probe Geometry for Wafer Testing Using Genetic Algorithm.
Author:	黃柏翰
Published:	雲林縣 :國立虎尾科技大學 , : 民114.07.,
Description:	[9], 58面 :圖, 表 ; : 30公分.;
Notes:	指導教授: 吳瑋特, 施孟鎧.
Subject:	懸臂式探針卡. -
Online resource:	電子資源

應用基因演算法於晶圓測試用細間距多層探針幾何結構之優化設計研究 = = Optimization Design of Fine-Pitch Multi-Layer Probe Geometry for Wafer Testing Using Genetic Algorithm /
黃柏翰

應用基因演算法於晶圓測試用細間距多層探針幾何結構之優化設計研究 =Optimization Design of Fine-Pitch Multi-Layer Probe Geometry for Wafer Testing Using Genetic Algorithm /Optimization Design of Fine-Pitch Multi-Layer Probe Geometry for Wafer Testing Using Genetic Algorithm.黃柏翰. - 初版. - 雲林縣 :國立虎尾科技大學 ,民114.07. - [9], 58面 :圖, 表 ;30公分.

指導教授: 吳瑋特, 施孟鎧.

碩士論文--國立虎尾科技大學機械與電腦輔助工程系碩士班.

含參考書目.

(平裝).Subjects--Topical Terms:

1494451
懸臂式探針卡.

應用基因演算法於晶圓測試用細間距多層探針幾何結構之優化設計研究 = = Optimization Design of Fine-Pitch Multi-Layer Probe Geometry for Wafer Testing Using Genetic Algorithm /
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