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JTAG測試原理與應用
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孫清華
JTAG測試原理與應用
Record Type:
Language materials, printed : monographic
Secondary Intellectual Responsibility:
孫清華,
Place of Publication:
台北市
Published:
全華;
Edition:
初版
Description:
一冊表 : 23公分;
Subject:
電路測試 -
Subject:
C(電腦程式語言) -
Subject:
BSDL(邊界掃描敘述語言) -
ISBN:
9572129228
JTAG測試原理與應用
JTAG測試原理與應用
/ 孫清華編譯 - 初版. - 台北市 : 全華 - 一冊 ; 表 ; 23公分.
參考書目:面[1].
ISBN 9572129228
電路測試C(電腦程式語言)BSDL(邊界掃描敘述語言)
孫, 清華
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圖書館4F 書庫
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圖書館4F 書庫
一般圖書(BOOK)
一般圖書
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