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Transmission electron microscopy and...

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Fultz, B

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:	FultzB,
其他作者:	HoweJames M, 1955
出版地:	Berlin
出版者:	Springer;
出版年:	c2002
版本:	2nd ed
面頁冊數:	xxi, 748 pill : 25 cm;
標題:	Materials - Microscopy -
標題:	Transmission electron microscopy -
標題:	X-ray diffractometer -
ISBN:	3540437649

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials
Fultz, B

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe - 2nd ed. - Berlin : Springer, c2002. - xxi, 748 p ; ill ; 25 cm.
Includes bibliographical references and index.
ISBN 3540437649
MaterialsTransmission electron microscopyX-ray diffractometer -- Microscopy

Howe, James M

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials
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館藏

1 筆 • 頁數 1 •
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典藏地名稱

館藏流通類別

E023469

圖書館3F 書庫

一般圖書(BOOK)

一般圖書

620.11299 F974 2002

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