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原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of a...

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汪島軍

原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Paralel Title:	Patent analysis of atomic force microscope
Author:	汪島軍,
Place of Publication:	臺北市
Published:	科資中心;
Year of Publication:	民93[2004]
Edition:	第一版
Description:	125面部分彩圖 : 30公分;
Series:	奈米科技專利研究系列
Subject:	奈米技術 -
Subject:	電子顯微鏡 -
ISBN:	9576191173

原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope
汪, 島軍

原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope / 汪島軍等作 - 第一版. - 臺北市 : 科資中心, 民93[2004]. - 125面 ; 部分彩圖 ; 30公分. - (奈米科技專利研究系列 ; 8).
含參考書目.
ISBN 9576191173
奈米技術電子顯微鏡

原子力顯微鏡專利地圖及分析 = Patent analysis of atomic force microscope
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一般圖書(BOOK)

一般圖書

471.73 3123 93 c.3

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