電子元器件可靠性試驗工程
陽輝

 

  • 電子元器件可靠性試驗工程
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Author: 羅雯,
    Alternative Intellectual Responsibility: 魏建中,
    Alternative Intellectual Responsibility: 陽輝,
    Place of Publication: 北京市
    Published: 電子工業;
    Year of Publication: 民94[2005]
    Edition: 第一版
    Description: 14,350面圖,表 : 26公分;
    Series: 應用電子
    Subject: 電子工程 -
    Notes: 大陸出版品
    ISBN: 712100965X
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