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幾何量公差與檢測 : 電子資源
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甘永立
幾何量公差與檢測 : 電子資源
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
副題名:
電子資源
作者:
甘永立
出版地:
上海
出版者:
上海科學技術出版社;
出版年:
2008
版本:
第8版
標題:
機械元件 機械元件 -
電子資源:
http://ttec.lib.apabi.com:80/product.asp?BookID=m%2e20080421%2dm000%2dw011%2d117
摘要註:
本書共分緒論，幾何量測量基礎，軸公差與配合，形狀和位置公差與檢測，表面粗糙度輪廓及其檢測，滾動軸承的公差與配合，孔、軸檢測與量規設計基礎等內容。
ISBN:
9787532391110
幾何量公差與檢測 : 電子資源
甘永立
幾何量公差與檢測
: 電子資源 / 甘永立主編 - 第8版. - 上海 : 上海科學技術出版社, 2008.
ISBN 9787532391110
機械元件 機械元件
幾何量公差與檢測 : 電子資源
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正題名取自題名屏
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本書共分緒論，幾何量測量基礎，軸公差與配合，形狀和位置公差與檢測，表面粗糙度輪廓及其檢測，滾動軸承的公差與配合，孔、軸檢測與量規設計基礎等內容。
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文本型
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