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幾何量公差與檢測 : 電子資源

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甘永立

幾何量公差與檢測 : 電子資源

Record Type:	Language materials, printed : monographic
Title Information:	電子資源
Author:	甘永立
Place of Publication:	上海
Published:	上海科學技術出版社;
Year of Publication:	2008
Edition:	第8版
Subject:	機械元件機械元件 -
Online resource:	http://ttec.lib.apabi.com:80/product.asp?BookID=m%2e20080421%2dm000%2dw011%2d117
Summary:	本書共分緒論，幾何量測量基礎，軸公差與配合，形狀和位置公差與檢測，表面粗糙度輪廓及其檢測，滾動軸承的公差與配合，孔、軸檢測與量規設計基礎等內容。
ISBN:	9787532391110

幾何量公差與檢測 : 電子資源
甘永立

幾何量公差與檢測 : 電子資源 / 甘永立主編 - 第8版. - 上海 : 上海科學技術出版社, 2008.
ISBN 9787532391110
機械元件機械元件

幾何量公差與檢測 : 電子資源
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200 1 $a 幾何量公差與檢測 $e 電子資源 $f 甘永立主編
204 0 $a 電子圖書
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304 $a 正題名取自題名屏
330 $a 本書共分緒論，幾何量測量基礎，軸公差與配合，形狀和位置公差與檢測，表面粗糙度輪廓及其檢測，滾動軸承的公差與配合，孔、軸檢測與量規設計基礎等內容。
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337 $a 需要下載並安裝APABI Reader軟件閱讀電子圖書
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