以臨界角法結CCD影像擷取技術作表面形貌量測之研究 = Study on...
Zhen-Chin Lin

 

  • 以臨界角法結CCD影像擷取技術作表面形貌量測之研究 = Study on the surface profile measurement by uses of the critical angle method and a ccd camera.
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Study on the surface profile measurement by uses of the critical angle method and a ccd camera.
    作者: 林振勤,
    其他作者: 邱銘宏,
    出版地: 雲林縣
    出版者: 國立虎尾科技大學;
    出版年: 民98[2009]
    版本: 初版
    面頁冊數: 93面圖 : 30公分;
    標題: CCD
    標題: 臨界角
    標題: 表面形貌
    標題: Critical Angle
    標題: Surface Profile
    標題: a CCD Camera
    電子資源: http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-2307200917475000
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
T001226 圖書館B1F 博碩士論文專區 不流通(NON_CIR) 碩士論文(TM) TM 008.166M 4454 98 一般使用(Normal) 在架 0
T001227 圖書館B1F 可外借論文區 不流通(NON_CIR) 一般圖書 008.166M 4454 98 一般使用(Normal) 在架 0
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