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利用共振腔擾動技術量測微波頻率下薄膜之介電性質 = Microwave ...

沈自

利用共振腔擾動技術量測微波頻率下薄膜之介電性質 = Microwave dielectric properties measurements of thin film by the cavity perturbation technique

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Microwave dielectric properties measurements of thin film by the cavity perturbation technique
作者:	李爵宇,
其他作者:	沈自,
出版地:	雲林縣
出版者:	國立虎尾科技大學;
出版年:	民98[2009]
版本:	初版
面頁冊數:	75面圖 : 30公分;
標題:	介電性質
標題:	微波
標題:	薄膜
標題:	Dielectric Properties
標題:	Microwave
標題:	Thin Film
電子資源:	http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-1507200912022600

利用共振腔擾動技術量測微波頻率下薄膜之介電性質 = Microwave dielectric properties measurements of thin film by the cavity perturbation technique
李, 爵宇

利用共振腔擾動技術量測微波頻率下薄膜之介電性質 = Microwave dielectric properties measurements of thin film by the cavity perturbation technique / 李爵宇撰 - 初版. - 雲林縣 : 國立虎尾科技大學, 民98[2009]. - 75面 ; 圖 ; 30公分.
含參考書目.
介電性質微波薄膜Dielectric PropertiesMicrowaveThin Film

沈, 自

利用共振腔擾動技術量測微波頻率下薄膜之介電性質 = Microwave dielectric properties measurements of thin film by the cavity perturbation technique
LDR:01133nam0 2200289 450 001 609223
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210 $a 雲林縣 $d 民98[2009] $c 國立虎尾科技大學
215 0 $a 75面 $c 圖 $d 30公分
314 $a 指導教授 : 沈自
320 $a 含參考書目
328 $a 碩士論文--國立虎尾科技大學光電與材料科技研究所
510 1 $a Microwave dielectric properties measurements of thin film by the cavity perturbation technique
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