國立虎尾科技大學 |

語系: 繁體中文

說明(常見問題)

登入

回首頁

切換: 標籤 | MARC模式 | ISBD

奈米檢測技術 = Advanced nano-scale inspect...

~

伍秀菁

奈米檢測技術 = Advanced nano-scale inspection technology

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Advanced nano-scale inspection technology
其他作者:	伍秀菁,
其他作者:	汪若文,
出版地:	新竹市
出版者:	全華總經銷; 國研院儀器科技研究中心發行;
出版年:	民98.04
版本:	初版
面頁冊數:	24,654面圖,表格 : 26公分;
標題:	奈米技術 -
ISBN:	9789868140943

奈米檢測技術 = Advanced nano-scale inspection technology
奈米檢測技術 = Advanced nano-scale inspection technology / 伍秀菁,汪若文編輯 - 初版. - 新竹市 : 全華總經銷, 民98.04. - 24,654面 ; 圖,表格 ; 26公分.
含參考書目及索引.
ISBN 9789868140943
奈米技術

伍, 秀菁

奈米檢測技術 = Advanced nano-scale inspection technology
LDR:00736cam0 2200217 450 001 614741
005 20101023174825.0
009 NFU98120458
010 0 $a 9789868140943 $b 平裝 $d NT800
100 $a 20091221d2009 k y0chiy50 e
101 0 $a chi
102 $a tw
105 $a ak z 001yy
200 1 $a 奈米檢測技術 $d Advanced nano-scale inspection technology $f 伍秀菁,汪若文編輯 $z eng
205 $a 初版
210 $a 新竹市 $a 臺北縣土城市 $d 民98.04 $c 全華總經銷 $c 國研院儀器科技研究中心發行
215 0 $a 24,654面 $c 圖,表格 $d 26公分
320 $a 含參考書目及索引
510 1 $a Advanced nano-scale inspection technology $z eng
606 $a 奈米技術 $3 702409
681 $a 440.7 $b 2124 $v 2007年版 $y 98
702 1 $a 伍 $b 秀菁 $4 編輯 $3 439930
702 1 $a 汪 $b 若文 $4 編輯 $3 439931
801 0 $a tw $b 三民 $c 20091217 $g CCR
801 2 $a tw $b 國立虎尾科技大學 $c 20091217 $g CCR $m 3

筆 0 讀者評論

館藏

1 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

C219278

圖書館4F 書庫

一般圖書(BOOK)

一般圖書

440.7 2124 98

一般使用(Normal)

在架

0

1 筆 • 頁數 1 •
1

評論

新增評論分享你的心得

Export

取書館別

變更密碼[密碼必須為2種組合(英文和數字)及長度為10碼以上]

登入