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塊體與薄膜材料微波介電性質量測技術之比較 = Measurement t...
~
Shi-Wei Lin
塊體與薄膜材料微波介電性質量測技術之比較 = Measurement technologies were compared of microwave dielectric properties for the bulk material and the thin film material
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:
Measurement technologies were compared of microwave dielectric properties for the bulk material and the thin film material
作者:
林世偉,
其他作者:
沈自,
出版地:
雲林縣
出版者:
國立虎尾科技大學;
出版年:
民99[2010]
版本:
初版
面頁冊數:
79面圖 : 30公分;
標題:
介電性質
標題:
塊體
標題:
微波
標題:
薄膜
標題:
bulk
標題:
dielectric properties
標題:
microwave
標題:
thin film
電子資源:
http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-1208201012332500
塊體與薄膜材料微波介電性質量測技術之比較 = Measurement technologies were compared of microwave dielectric properties for the bulk material and the thin film material
林, 世偉
塊體與薄膜材料微波介電性質量測技術之比較
= Measurement technologies were compared of microwave dielectric properties for the bulk material and the thin film material / 林世偉撰 - 初版. - 雲林縣 : 國立虎尾科技大學, 民99[2010]. - 79面 ; 圖 ; 30公分.
含參考書目.
介電性質塊體微波薄膜bulkdielectric propertiesmicrowavethin film
沈, 自
塊體與薄膜材料微波介電性質量測技術之比較 = Measurement technologies were compared of microwave dielectric properties for the bulk material and the thin film material
LDR
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指導教授 : 沈自
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含參考書目
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碩士論文--國立虎尾科技大學光電與材料科技研究所
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Measurement technologies were compared of microwave dielectric properties for the bulk material and the thin film material
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圖書館B1F 博碩士論文專區
圖書館B1F 可外借論文區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
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資料類型
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使用類型
借閱狀態
預約狀態
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T001753
圖書館B1F 可外借論文區
不流通(NON_CIR)
一般圖書
008.166M 4442 99
一般使用(Normal)
在架
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T001752
圖書館B1F 博碩士論文專區
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碩士論文(TM)
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2 筆 • 頁數 1 •
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