塊體與薄膜材料微波介電性質量測技術之比較 = Measurement t...
Shi-Wei Lin

 

  • 塊體與薄膜材料微波介電性質量測技術之比較 = Measurement technologies were compared of microwave dielectric properties for the bulk material and the thin film material
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Measurement technologies were compared of microwave dielectric properties for the bulk material and the thin film material
    作者: 林世偉,
    其他作者: 沈自,
    出版地: 雲林縣
    出版者: 國立虎尾科技大學;
    出版年: 民99[2010]
    版本: 初版
    面頁冊數: 79面圖 : 30公分;
    標題: 介電性質
    標題: 塊體
    標題: 微波
    標題: 薄膜
    標題: bulk
    標題: dielectric properties
    標題: microwave
    標題: thin film
    電子資源: http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-1208201012332500
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
T001753 圖書館B1F 可外借論文區 不流通(NON_CIR) 一般圖書 008.166M 4442 99 一般使用(Normal) 在架 0
T001752 圖書館B1F 博碩士論文專區 不流通(NON_CIR) 碩士論文(TM) TM 008.166M 4442 99 一般使用(Normal) 在架 0
  • 2 筆 • 頁數 1 •
多媒體
評論
Export
取書館別
 
 
變更密碼[密碼必須為2種組合(英文和數字)及長度為10碼以上]
登入