應用德爾菲法及分析網路程序法於半導體分析晶片缺點因子改善製程良率之研究 ...
Chang An-Yuan

 

  • 應用德爾菲法及分析網路程序法於半導體分析晶片缺點因子改善製程良率之研究 = Analyze the Defect Factor to Improve Process Yield of Semiconductor with ANP and Delphi Method
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Analyze the Defect Factor to Improve Process Yield of Semiconductor with ANP and Delphi Method
    作者: 周大鈞,
    其他作者: 張洝源,
    出版地: 雲林縣
    出版者: 國立虎尾科技大學;
    出版年: 民99[2010]
    版本: 初版
    面頁冊數: 67面圖 : 30公分;
    標題: 德爾菲法
    標題: 分析網路程序法
    標題: 半導體化學氣相沉積晶片缺點
    標題: Delphi Method
    標題: Analytic Network Process
    標題: Defects in Semiconductor Chemical Vapor Deposition Chip
    電子資源: http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-2907201000023200
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
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