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應用德爾菲法及分析網路程序法於半導體分析晶片缺點因子改善製程良率之研究 ...

Chang An-Yuan

應用德爾菲法及分析網路程序法於半導體分析晶片缺點因子改善製程良率之研究 = Analyze the Defect Factor to Improve Process Yield of Semiconductor with ANP and Delphi Method

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
並列題名:	Analyze the Defect Factor to Improve Process Yield of Semiconductor with ANP and Delphi Method
作者:	周大鈞,
Secondary Intellectual Responsibility:	張洝源,
Place of Publication:	雲林縣
Published:	國立虎尾科技大學;
Year of Publication:	民99[2010]
Edition:	初版
Description:	67面圖 : 30公分;
Subject:	德爾菲法
Subject:	分析網路程序法
Subject:	半導體化學氣相沉積晶片缺點
Subject:	Delphi Method
Subject:	Analytic Network Process
Subject:	Defects in Semiconductor Chemical Vapor Deposition Chip
Online resource:	http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-2907201000023200

應用德爾菲法及分析網路程序法於半導體分析晶片缺點因子改善製程良率之研究 = Analyze the Defect Factor to Improve Process Yield of Semiconductor with ANP and Delphi Method
周, 大鈞

應用德爾菲法及分析網路程序法於半導體分析晶片缺點因子改善製程良率之研究 = Analyze the Defect Factor to Improve Process Yield of Semiconductor with ANP and Delphi Method / 周大鈞撰 - 初版. - 雲林縣 : 國立虎尾科技大學, 民99[2010]. - 67面 ; 圖 ; 30公分.
含參考書目.
德爾菲法分析網路程序法半導體化學氣相沉積晶片缺點Delphi MethodAnalytic Network ProcessDefects in Semiconductor Chemical Vapor Deposition Chip

張, 洝源

應用德爾菲法及分析網路程序法於半導體分析晶片缺點因子改善製程良率之研究 = Analyze the Defect Factor to Improve Process Yield of Semiconductor with ANP and Delphi Method
LDR:01301nam0 2200301 450 001 649193
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010 0 $b 平裝
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200 1 $a 應用德爾菲法及分析網路程序法於半導體分析晶片缺點因子改善製程良率之研究 $d Analyze the Defect Factor to Improve Process Yield of Semiconductor with ANP and Delphi Method $f 周大鈞撰
205 $a 初版
210 $a 雲林縣 $d 民99[2010] $c 國立虎尾科技大學
215 0 $a 67面 $c 圖 $d 30公分
314 $a 指導教授 : 張洝源
320 $a 含參考書目
328 $a 碩士論文--國立虎尾科技大學工業工程與管理研究所
510 1 $a Analyze the Defect Factor to Improve Process Yield of Semiconductor with ANP and Delphi Method
610 # 0 $a 德爾菲法
610 # 0 $a 分析網路程序法
610 # 0 $a 半導體化學氣相沉積晶片缺點
610 # 1 $a Delphi Method
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610 # 1 $a Defects in Semiconductor Chemical Vapor Deposition Chip
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801 0 $a tw $b 國立虎尾科技大學圖書館 $c 20100914
801 1 $a tw $b 國立虎尾科技大學圖書館 $c 20110217
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