| 摘要註: |
全書分為四個部份. 首先闡述了電子元器件失效分析中的理論基礎, 包括有關原子物理學, 材料學, 化學, 冶金學及元器件的基本工作原理, 介紹了與元器件失效相關的製造工藝和技術; 第二部份論述了失效的物理模型, 介紹了失效分析程序, 常用的失效分析方法和技術, 以及用於失效分析的較先進的微理化分析技術; 第三部份結合具體的元器件: 微電子器件, 阻容元件, 繼電器及連接器, 光電子器件和真空電子器件, 以及元器件的引線和電極系統的失效模式和失效機理加以剖析, 提出了提高電子元器件可靠性的措施. 最後闡述了元器件靜電放電失效的原理和防護; 元器件的輻射效應和抗輻射加固技術. |