應用失效模式與效應分析於記憶體模組製程之表面黏著技術機臺 = Apply...
王昭鑑

 

  • 應用失效模式與效應分析於記憶體模組製程之表面黏著技術機臺 = Apply Failure Mode and Effects Analysis to the SMT Machine in the DRAM Manufacturing Process
  • Record Type: Language materials, printed : monographic
    Paralel Title: Apply Failure Mode and Effects Analysis to the SMT Machine in the DRAM Manufacturing Process
    Author: 王昭鑑,
    Secondary Intellectual Responsibility: 黃信豪,
    Place of Publication: 雲林縣
    Published: 國立虎尾科技大學;
    Year of Publication: 民100[2011]
    Edition: 初版
    Description: 69面圖 : 30公分;
    Subject: 記憶體模組
    Subject: 表面黏著技術
    Subject: 失效模式與效應分析
    Subject: DRAM manufacturing
    Subject: Surface Mount Technology
    Subject: Failure Mode and Effects Analysis
    Online resource: http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-2207201111352400
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T003208 圖書館B1F 博碩士論文專區 不流通(NON_CIR) 碩士論文(TM) TM 008.169M 1068 100 一般使用(Normal) On shelf 0
T003209 圖書館B1F 可外借論文區 不流通(NON_CIR) 一般圖書 008.169M 1068 100 一般使用(Normal) On shelf 0
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