應用失效模式與效應分析於記憶體模組製程之表面黏著技術機臺 = Apply...
王昭鑑

 

  • 應用失效模式與效應分析於記憶體模組製程之表面黏著技術機臺 = Apply Failure Mode and Effects Analysis to the SMT Machine in the DRAM Manufacturing Process
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : 單行本
    並列題名: Apply Failure Mode and Effects Analysis to the SMT Machine in the DRAM Manufacturing Process
    作者: 王昭鑑,
    其他作者: 黃信豪,
    出版地: 雲林縣
    出版者: 國立虎尾科技大學;
    出版年: 民100[2011]
    版本: 初版
    面頁冊數: 69面圖 : 30公分;
    標題: 記憶體模組
    標題: 表面黏著技術
    標題: 失效模式與效應分析
    標題: DRAM manufacturing
    標題: Surface Mount Technology
    標題: Failure Mode and Effects Analysis
    電子資源: http://cetd.lib.nfu.edu.tw/etdservice/view_metadata?etdun=U0028-2207201111352400
館藏
  • 2 筆 • 頁數 1 •
 
T003208 圖書館B1F 博碩士論文專區 不流通(NON_CIR) 碩士論文(TM) TM 008.169M 1068 100 一般使用(Normal) 在架 0
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